2022國(guó)防科技大學(xué)數(shù)字電子技術(shù)碩士研究生考研考試大綱及參考書(shū)目 正文

2022年碩士研究生復(fù)試考試自命題科目考試大綱
科目代碼：F0303   科目名稱(chēng)：數(shù)字電子技術(shù)
 
一、考試要求
主要考查學(xué)生對(duì)邏輯代數(shù)基本概念的理解與掌握；對(duì)組合邏輯電路、時(shí)序邏輯電路分析與設(shè)計(jì)方法的理解與掌握；對(duì)邏輯門(mén)電路、脈沖波形產(chǎn)生與整形、半導(dǎo)體存儲(chǔ)器和可編程邏輯器件、模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等相關(guān)概念的理解與掌握；以及運(yùn)用基本理論知識(shí)來(lái)分析設(shè)計(jì)實(shí)際數(shù)字電路及數(shù)字系統(tǒng)的能力。
二、考試內(nèi)容
1．邏輯代數(shù)基礎(chǔ)
    數(shù)制與碼制的基本概念，邏輯代數(shù)的基本概念、基本運(yùn)算、描述方法及三大定理，邏輯函數(shù)的公式化簡(jiǎn)法，邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡(jiǎn)法及具有無(wú)關(guān)項(xiàng)的邏輯函數(shù)及其化簡(jiǎn)。
2．邏輯門(mén)電路
    邏輯門(mén)電路的基本概念，半導(dǎo)體器件的開(kāi)關(guān)特性，典型CMOS集成門(mén)電路和典型雙極型集成門(mén)電路，重點(diǎn)是TTL門(mén)電路的電路結(jié)構(gòu)和工作原理，以及邏輯門(mén)電路使用注意事項(xiàng)的理解與應(yīng)用。
3．組合邏輯電路
    組合邏輯電路的結(jié)構(gòu)及功能特點(diǎn)，基于門(mén)電路的組合邏輯電路的分析和設(shè)計(jì)方法，常用中規(guī)模組合邏輯電路（如編碼器、譯碼器、數(shù)據(jù)分配器、數(shù)據(jù)選擇器、加法器、數(shù)值比較器等）的工作原理、門(mén)級(jí)電路設(shè)計(jì)及MSI集成芯片應(yīng)用，對(duì)組合邏輯電路中競(jìng)爭(zhēng)-冒險(xiǎn)現(xiàn)象的理解。
4．觸發(fā)器
    觸發(fā)器概念和基本特點(diǎn)，同步、主從、邊沿等不同觸發(fā)類(lèi)型觸發(fā)器的電路結(jié)構(gòu)與狀態(tài)轉(zhuǎn)換分析，觸發(fā)器的邏輯功能及其描述方法。
5．時(shí)序邏輯電路
    時(shí)序邏輯電路結(jié)構(gòu)和功能上的基本特點(diǎn)、描述方法及分類(lèi)，基于觸發(fā)器和門(mén)電路的時(shí)序邏輯電路的分析與設(shè)計(jì)，常用中規(guī)模時(shí)序邏輯電路（如計(jì)數(shù)器、移位寄存器、序列信號(hào)發(fā)生器、順序脈沖發(fā)生器等）的工作原理和相應(yīng)中規(guī)模集成電路的功能分析與應(yīng)用，對(duì)時(shí)序邏輯電路中競(jìng)爭(zhēng)-冒險(xiǎn)現(xiàn)象的理解。
6．半導(dǎo)體存儲(chǔ)器及可編程邏輯器件
    半導(dǎo)體存儲(chǔ)及可編程邏輯器件的基本概念，發(fā)展?fàn)顩r、分類(lèi)及其技術(shù)指標(biāo)，隨機(jī)存取存儲(chǔ)器（RAM）與只讀存儲(chǔ)器（ROM）的電路結(jié)構(gòu)和特點(diǎn)，存儲(chǔ)器的容量擴(kuò)展及應(yīng)用舉例，ROM實(shí)現(xiàn)組合邏輯函數(shù)的方法，典型可編程邏輯器件（如CPLD、FPGA）的電路結(jié)構(gòu)及特點(diǎn)。
7．脈沖波形的產(chǎn)生和整形
    555時(shí)基電路的電路結(jié)構(gòu)、工作原理，施密特觸發(fā)電路、單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)電路和多諧振蕩器等幾種典型脈沖產(chǎn)生與整形單元電路的特點(diǎn)及多種構(gòu)成電路的工作原理，施密特、單穩(wěn)態(tài)和多諧振蕩電路的典型應(yīng)用。
8．DAC和ADC
    數(shù)-模轉(zhuǎn)換(DAC)和模-數(shù)轉(zhuǎn)換(ADC)的基本概念及分類(lèi)，典型DAC（如權(quán)電阻網(wǎng)絡(luò)DAC、倒T型電阻網(wǎng)絡(luò)DAC等）的工作原理及具體應(yīng)用，DAC的主要性能指標(biāo)；典型直接型ADC（如并聯(lián)比較型ADC、反饋比較型ADC等）的工作原理及電路特點(diǎn)，典型間接型ADC（如雙積分型ADC、V-F型ADC等）的工作原理及電路特點(diǎn)，ADC的主要性能指標(biāo)。
三、考試形式
考試形式為閉卷、筆試，考試時(shí)間為2小時(shí)，滿(mǎn)分100分。
題型包括：填空題10分、選擇題20分、分析與設(shè)計(jì)題70分等。
四、參考書(shū)目
1．《數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)》．閻石主編．高等教育出版社，2016，第六版。
2．《數(shù)字電路與邏輯設(shè)計(jì)（Verilog HDL&Vivado版）》．湯勇明等主編．清華大學(xué)出版社，2017，第一版。

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