華南理工大學(xué)大學(xué)電子與信息學(xué)院導(dǎo)師:李斌

發(fā)布時(shí)間:2021-10-26 編輯:考研派小莉 推薦訪問(wèn):
華南理工大學(xué)大學(xué)電子與信息學(xué)院導(dǎo)師:李斌

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華南理工大學(xué)大學(xué)電子與信息學(xué)院導(dǎo)師:李斌 正文


  姓名:李斌  性別:女  出生年月:1967年2月
  職稱:教授  學(xué)院:電子與信息學(xué)院  最后學(xué)歷:碩士博士
  主要研究方向:集成電路設(shè)計(jì)與系統(tǒng)集成;深亞微米芯片建模、仿真及其參數(shù)提??;
       半導(dǎo)體器件和集成電路可靠性研究與設(shè)計(jì)

  李斌 (Li Bin),女,漢族,1967年2月出生于北京 。教授,博士生導(dǎo)師,香港大學(xué)電機(jī)電子工程學(xué)系博士,廣州集成電路設(shè)計(jì)中心副主任,華南理工大學(xué)微電子研究所副所長(zhǎng),IEEE電子器件分社(Electron Device Society)廣州分部(Guangzhou Chapter)副主席。研究興趣在生物醫(yī)學(xué)用集成電路設(shè)計(jì)及生物傳感器、半導(dǎo)體器件建模和集成電路可靠性等方面。近五年來(lái)主持了國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目“生物醫(yī)學(xué)用植入式無(wú)線能量傳輸及射頻集成電路的研究”、武器裝備部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室預(yù)研項(xiàng)目“電路級(jí)NBTI效應(yīng)及加固方法研究”和“0.5微米CMOS工藝柵氧化層可靠性評(píng)價(jià)技術(shù)”、武器裝備部預(yù)研子項(xiàng)目“微電路X射線輻射試驗(yàn)”、廣東省工業(yè)科技攻關(guān)計(jì)劃項(xiàng)目“AFP微電極快速檢測(cè)儀的研制”、教育部歸國(guó)留學(xué)人員基金“高介電常數(shù)柵介質(zhì)--鈣鈦礦類薄膜材料研究”,作為主要參加者參與國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目“多晶硅薄膜晶體管的建模及特性研究”、國(guó)家863課題項(xiàng)目“高分子發(fā)光平板顯示技術(shù)”、粵港關(guān)鍵領(lǐng)域重點(diǎn)突破項(xiàng)目“32/64位CPU IP核以及相應(yīng)SOC開(kāi)發(fā)平臺(tái)”、廣東省工業(yè)科技攻關(guān)計(jì)劃項(xiàng)目“可應(yīng)用于系統(tǒng)及芯片(SoC)的關(guān)鍵芯核(IP)的開(kāi)發(fā)”、Cadence國(guó)際合作項(xiàng)目“面向TFT-LCD的TFT建模仿真與可制造設(shè)計(jì)”等。
 

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